自动测试图样产生(英语:Automatic test pattern generation, ATPG)系统是一种工具,产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。
超大规模集成电路的测试平台,要达到非常高的错误涵盖率是非常困难的工作,因为它的复杂度很高。针对组合逻辑电路(Combinatorial logic)和时序逻辑电路(Sequential logic)的电路测试,必须要使用不同的 ATPG 方法。
自动测试图样产生(英语:Automatic test pattern generation, ATPG)系统是一种工具,产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。
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